鍍層厚度測量是電鍍工藝質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，也是電鍍產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)標(biāo)的重要保障。為了控制鍍層厚度，需要用到各種測量方法，其中常見的就是使用磁性法和渦流法鍍層測厚儀對鍍層厚度進(jìn)行無損測量。

一、多種測量鍍層厚度的方式

1. 磁感應(yīng)法測量鍍層厚度

利用測頭經(jīng)過非鐵磁的覆層而流入鐵磁性金屬基體的磁通量的大小來確定鍍層的厚度。適合測量鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性金屬鍍層，如涂料、清漆、搪瓷、塑料、橡膠覆層，鍍鉻、鍍鋅、鍍鎘、鍍銅層等有色金屬電鍍層以及各種防腐涂層。

２. 電渦流測厚法鍍層測厚儀

通過高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體越近，則渦流愈大，反射阻抗能力越大。這個反饋?zhàn)饔帽碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。

３. 其他鍍層厚度測量方式

除了上述的磁性和渦流測厚法，還有楔切法，光學(xué)法（如輪廓尺寸測量法，雙光束顯微鏡法），電解法（如陽極溶解庫倫法）、金相法、化學(xué)法（點(diǎn)滴法，溶解稱重法，計時液流法），機(jī)械法（如稱重法，厚度差測量法），X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法等多種鍍層厚度測量方式。其中電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。X射線和β射線法也屬于無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。

二、LS225測量鍍層厚度

在上述的多種鍍層測厚方式中，林上科技新推出的LS225鍍層測厚儀采用的就是磁感應(yīng)測厚法，我們以這款儀器為例，詳細(xì)介紹一下如何用儀器測量鍍層厚度。

LS225的操作步驟

1.多點(diǎn)校準(zhǔn)：LS225鍍層測厚儀出廠默認(rèn)標(biāo)配了7片標(biāo)準(zhǔn)片，用戶可以根據(jù)自己的需要進(jìn)行1至5個點(diǎn)的校準(zhǔn)。

2.零點(diǎn)檢查：校準(zhǔn)完畢之后，儀器會提示您進(jìn)行零點(diǎn)檢查，以確保測量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)。請使用未噴涂標(biāo)準(zhǔn)工件或者配備的調(diào)零板進(jìn)行調(diào)零。

3.開始測量：將探頭垂直按壓在被測材料表面，在儀器主機(jī)上即刻顯示測量結(jié)果。儀器測量時可以保存9組測試數(shù)據(jù)，并在屏幕上顯示出9個數(shù)據(jù)的最大值，最小值，平均值以及方差值。